Электронный микроскоп
Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор (микроскоп), позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока, пучка электронов с энергиями 200 эВ — 400 кэВ и более (например, просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения с ускоряющим напряжением 1 МВ).
Длина волны де Бройля электронов, ускоренных в электрическом поле с разностью потенциалов 1000 В, равна 0,4 Å, что много меньше длины волны видимого света. Вследствие этого, разрешающая способность электронного микроскопа в более чем 10000 раз может превосходить разрешение традиционного оптического микроскопа. Для получения изображения в электронном микроскопе используются специальные магнитные линзы, управляющие движением электронов в колонне прибора при помощи электромагнитного поля.
История развития электронного микроскопа
Основные вехи в истории электронной микроскопии:
1897 — Томсон (J. J. Thomson) открыл электрон.
1924 — Де Бройль (de Broglie) предположил существование у электрона волновых свойств
1926 — Буш (Busch) продемонстрировал возможность фокусировки электронного потока с помощью магнитных линз цилиндрической формы. Это положило начало ЭМ.
1931 — Р. Руденберг получил патент на просвечивающий ЭМ; в 1931 году М. Кнолль и Эрнст Руска построили первый прототип современного прибора. Эта работа Руски в 1986 году была отмечена Нобелевской премией по физике, которую присудили ему и изобретателям сканирующего зондового микроскопа Герду Карлу Биннигу и Генриху Рореру. Использование просвечивающего электронного микроскопа для научных исследований было начато в конце 1930-х годов, и тогда же появился первый коммерческий прибор, построенный фирмой Siemens.
1935 — Кнолль (Knoll) описал принцип работы сканирующего электронного микроскопа. Позднее, в 1938, Ардене (Von Ardene) создал прототип такого микроскопа.
1939 — Сименс (Siemens) создал первый просвечивающий электронный микроскоп.
Конец 1930-х – начало 1940-х годов — появились первые растровые электронные микроскопы, формирующие изображение объекта при последовательном перемещении электронного зонда малого сечения по объекту. Массовое применение этих приборов в научных исследованиях началось в 1960-х годах, когда они достигли значительного технического совершенства.
1944 — Уильямс и Виков (Williams, Wyckoff) создали метод оттенения металлом.
1945 — Портер, Клод и Фуллам (Porter, Claude, Fullam) применили электронную микроскопию в цитологии, изучая фиксированные клетки и ткани после окрашивания.
1948 — Пиз и Бэйкер (Pease, Baker) получили тончайшие срезы био-образцов – около 0,1-0,2 мкм.
1952 — Паладе, Портер и Шестранд (Palade, Porter, Sjostrand) создали новые способы фиксации и приготовления тонких срезов, что впервые позволило увидеть многие внутриклеточные структуры. В числе первых эти методы применил Хаксли (Н. Е. Xuxley) , чтобы получить доказательства в пользу гипотезы "скользящих нитей", которая описывает механизм сокращения мышечной ткани. Хаксли продемонстрировал перекрывающиеся сети белковых филаментов миоцитов.
1953 — Портер и Блюм (Porter, Blum) спроектировали ультрамикротом.
1956 — Глауэрт (Glauert) вместе с сотрудниками применили смолу в качестве средства фиксации микропрепаратов. В 1961 Люфт (Luft) предложил использовать смолу .
1957 — Робертсон (Robertson) описал трехслойное строение клеточной мембраны.
1957 — Мур и Мюреталер (Moor, Muhlethaler) улучшили метод "замораживания-скалывания" Стира (Steere). В 1966 г. Брентон (Branton) применил этот метод для изучения внутреннего строения мембран клеток.
1959 — Бреннер и Хорн (Bretftier, Home) улучшили метод негативного контрастирования Холла (Hall, 1955), что привело к распространению его использования.
1959 — Сингер (Singer) применил ферритин-ассоциированные антитела для детекции внутриклеточных молекул методом ЭМ.
1963 — Сабатини, Бенш и Баррнетт (Sabatini, Bensch, Barrnett) применили и OsO4 для фиксации микропрепарата при ЭМ.
1965 — коммерциализировала сканирующий ЭМ.
1968 — Де Розьер и Клуг (de Rosier, Klug) описали метод определения трехмерных структур по электронным микрофотографиям
1975 — Хендерсон и Унвин (Henderson, Unwin) впервые определили тонкое строение мембранного белка, используя реконструкцию
электронных микрофотографий неокрашенных белков на компьютере
Значительным скачком (в 1970-х годах) в развитии было использование вместо термоэмиссионных катодов — катодов Шоттки и катодов с холодной автоэмиссией, однако их применение требует значительно большего вакуума.
1979 — Хейзер, Рис (Heuser, Reese) с коллегами разработал метод глубокого травления, обладающий высокой разрешающей способностью, который использовал метод сверхбыстрой заморозки.
Конец 1990-х – начало 2000-х — компьютеризация и использование ПЗС-детекторов значительно упростили получение изображений в цифровом виде.
В последнее десятилетие в современных передовых просвечивающих электронных микроскопах используются корректоры сферических и хроматических аберраций, вносящих основные искажения в получаемое изображение. Однако их применение может значительно усложнять использование прибора.
2018 — американским учёным удалось добиться разрешения электронного микроскопа в 3,9 *10−11м.
Виды приборов
Просвечивающая электронная микроскопия
В просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) для формирования изображения используется высокоэнергетический электронный пучок. Электронный пучок создается посредством катода (вольфрамового, LaB6, Шоттки или холодной полевой эмиссии). Полученный электронный пучок ускоряется обычно до 80—200 кэВ (используются различные напряжения от 20 кВ до 1 МВ), фокусируется системой магнитных линз (иногда электростатических линз), проходит через образец так, что часть электронов рассеивается на образце, а часть — нет. Таким образом, прошедший через образец электронный пучок несет информацию о структуре образца. Далее пучок проходит через систему увеличивающих линз и формирует изображение на люминесцентном экране (как правило, из сульфида цинка), фотопластинке или ПЗС-камере.
Разрешение ПЭМ лимитируется в основном сферической аберрацией. Некоторые современные ПЭМ имеют корректоры сферической аберрации.
Основными недостатками ПЭМ являются необходимость в очень тонком образце (порядка 100 нм) и неустойчивость (разложение) образцов под пучком.
Просвечивающая растровая (сканирующая) электронная микроскопия (ПРЭМ)
Один из типов просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ); однако, есть приборы, работающие исключительно в режиме ПРЭМ. Пучок электронов пропускается через относительно тонкий образец, но, в отличие от обычной просвечивающей электронной микроскопии, электронный пучок фокусируется в точку, которая перемещается по образцу по растру.
Растровая (сканирующая) электронная микроскопия
В основе лежит телевизионный принцип развёртки тонкого пучка электронов по поверхности образца.
Окрашивание
В своих наиболее распространенных конфигурациях, электронные микроскопы дают изображения с отдельным значением яркости на каждый пиксель, с результатами, как правило, изображенными в оттенках серого. Однако, часто эти изображения затем раскрашены посредством использования программного обеспечения, или просто ручным редактированием с помощью графического редактора. Это делается обычно для эстетического эффекта или для уточнения структуры и, как правило, не добавляет информацию об образце.
В некоторых конфигурациях о свойствах образца можно собрать больше информации на каждый пиксель, благодаря использованию нескольких детекторов. В СЭМ атрибуты топографии и рельефа материала могут быть получены с помощью пары электронных детекторов отражения и такие атрибуты могут быть наложены в единое цветное изображение, с присвоением разных первичных цветов для каждого атрибута. По аналогии, сочетаниям отраженного и вторичного электронного сигнала различные цвета могут быть присвоены и наложены на один цветной микрограф, одновременно показывающий свойства образца.
Некоторые типы детекторов, используемых в СЭМ, имеют аналитические возможности и могут обеспечить несколько элементов данных на каждом пикселе. Примерами являются детекторы, используемые в элементном анализе, и системы катодолюминесцентных микроскопов, которые анализируют интенсивность и спектр электронно-стимулированной люминесценции (например, в геологических образцах). В системах СЭМ использование этих детекторов является общим для цветового кода сигналов и накладывают их в единое цветное изображение, так что различия в распределении различных компонентов образца можно ясно видеть и сравнивать. Дополнительно, стандарт вторичных электронных изображений может быть объединен с одним или более композиционными каналами, так что можно сравнить структуру и состав образца. Такие изображения могут быть сделаны с сохранением полной целостности исходного сигнала, который не изменяется в любом случае.
Сферы применения
| Полупроводники и хранение данных
Биология и биологические науки
| Научные исследования
Промышленность
|
Недостатки
Электронные микроскопы дороги в производстве и обслуживании, но общая и эксплуатационная стоимость конфокального оптического микроскопа сравнима с базовыми электронными микроскопами. Микроскопы, направленные на достижение высоких разрешений, должны быть размещены в устойчивых зданиях (иногда под землёй) и без внешних электромагнитных полей. Образцы в основном должны рассматриваться в вакууме, так как молекулы, составляющие воздух, будут рассеивать электроны.
Сканирующие электронные микроскопы, работающие в обычном высоковакуумном режиме, как правило, изображают проводящий образец; Поэтому непроводящие материалы требуют проводящее покрытие (золото / палладий, сплав углерода, осмий, и т. д.); режим низкого напряжения современных микроскопов делает возможным наблюдение непроводящих образцов без покрытия. Непроводящие материалы могут быть изображены также переменным давлением (или окружающей средой) сканирующего электронного микроскопа[как?].
См. также
- Низковольтный электронный микроскоп
- Микроскопия
- Метод реплик (микроскопия)
- Микроскопия медленных электронов
- Сканирующий гелиевый ионный микроскоп
- Отражательная микроскопия
Примечания
- «Электронный микроскоп» — статья в Малой советской энциклопедии; 2 издание; 1937—1947 гг.
- Яворский Б. М., Пинский А. А. Основы физики. Том 2. — М., Наука, 1974. — Тираж 169000 экз. — с. 180
- Албертс Б., Брей Д., Льюис Дж., Рэфф М., Робертс К., Уотсон Дж. — Молекулярная биология клетки: В 3-х т. 2-е изд., перераб. М75 и доп. Т. 1. Пер. с англ.-М.: Мир, 1994.-517 с., ил. ISBN 5-03-001985-5
- Rachel Courtland. The microscope revolution that’s sweeping through materials science (EN) // Nature. — 2018-11-21. — Т. 563. — С. 462. — doi:10.1038/d41586-018-07448-0. Архивировано 1 декабря 2021 года.
- Burgess, Jeremy. Under the Microscope: A Hidden World Revealed (англ.). — Cambridge University Press, 1987. — P. 11. — ISBN 0-521-39940-8.
- Introduction to Electron Microscopy 15. FEI Company. Дата обращения: 12 декабря 2012. Архивировано 24 января 2013 года.
- Antonovsky, A. The application of colour to sem imaging for increased definition (англ.) // Micron and Microscopica Acta : journal. — 1984. — Vol. 15, no. 2. — P. 77—84. — doi:10.1016/0739-6260(84)90005-4.
- Danilatos, G.D. Colour micrographs for backscattered electron signals in the SEM (англ.) // Scanning : journal. — 1986. — Vol. 9, no. 3. — P. 8—18. — doi:10.1111/j.1365-2818.1986.tb04287.x.
- Danilatos, G.D. Environmental scanning electron microscopy in colour (неопр.) // J. Microscopy. — 1986. — Т. 142. — С. 317—325. — doi:10.1002/sca.4950080104.
Литература
- Электронный микроскоп / П. А. Стоянов // Экслибрис — Яя. — М. : Советская энциклопедия, 1978. — (Большая советская энциклопедия : [в 30 т.] / гл. ред. А. М. Прохоров ; 1969—1978, т. 30).
- Электронная микроскопия / А. Е. Лукьянов // Экслибрис — Яя. — М. : Советская энциклопедия, 1978. — (Большая советская энциклопедия : [в 30 т.] / гл. ред. А. М. Прохоров ; 1969—1978, т. 30).
- Применение электронной микроскопии в биологии / Н. А. Старосветская, // Экслибрис — Яя. — М. : Советская энциклопедия, 1978. — (Большая советская энциклопедия : [в 30 т.] / гл. ред. А. М. Прохоров ; 1969—1978, т. 30).
Ссылки
- «Электронный микроскоп» — статья в Малой советской энциклопедии; 2 издание; 1937—1947 гг.
Википедия, чтение, книга, библиотека, поиск, нажмите, истории, книги, статьи, wikipedia, учить, информация, история, скачать, скачать бесплатно, mp3, видео, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, картинка, музыка, песня, фильм, игра, игры, мобильный, телефон, Android, iOS, apple, мобильный телефон, Samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, ПК, web, Сеть, компьютер, Информация о Электронный микроскоп, Что такое Электронный микроскоп? Что означает Электронный микроскоп?
Elektro nnyj mikrosko p EM pribor mikroskop pozvolyayushij poluchat izobrazhenie obektov s maksimalnym uvelicheniem do 106 raz blagodarya ispolzovaniyu v otlichie ot opticheskogo mikroskopa vmesto svetovogo potoka puchka elektronov s energiyami 200 eV 400 keV i bolee naprimer prosvechivayushie elektronnye mikroskopy vysokogo razresheniya s uskoryayushim napryazheniem 1 MV Elektronnyj mikroskop Model 1960 h godov Dlina volny de Brojlya elektronov uskorennyh v elektricheskom pole s raznostyu potencialov 1000 V ravna 0 4 A chto mnogo menshe dliny volny vidimogo sveta Vsledstvie etogo razreshayushaya sposobnost elektronnogo mikroskopa v bolee chem 10000 raz mozhet prevoshodit razreshenie tradicionnogo opticheskogo mikroskopa Dlya polucheniya izobrazheniya v elektronnom mikroskope ispolzuyutsya specialnye magnitnye linzy upravlyayushie dvizheniem elektronov v kolonne pribora pri pomoshi elektromagnitnogo polya Istoriya razvitiya elektronnogo mikroskopaOsnovnye vehi v istorii elektronnoj mikroskopii 1897 Tomson J J Thomson otkryl elektron 1924 De Brojl de Broglie predpolozhil sushestvovanie u elektrona volnovyh svojstv 1926 Bush Busch prodemonstriroval vozmozhnost fokusirovki elektronnogo potoka s pomoshyu magnitnyh linz cilindricheskoj formy Eto polozhilo nachalo EM 1931 R Rudenberg poluchil patent na prosvechivayushij EM v 1931 godu M Knoll i Ernst Ruska postroili pervyj prototip sovremennogo pribora Eta rabota Ruski v 1986 godu byla otmechena Nobelevskoj premiej po fizike kotoruyu prisudili emu i izobretatelyam skaniruyushego zondovogo mikroskopa Gerdu Karlu Binnigu i Genrihu Roreru Ispolzovanie prosvechivayushego elektronnogo mikroskopa dlya nauchnyh issledovanij bylo nachato v konce 1930 h godov i togda zhe poyavilsya pervyj kommercheskij pribor postroennyj firmoj Siemens 1935 Knoll Knoll opisal princip raboty skaniruyushego elektronnogo mikroskopa Pozdnee v 1938 Ardene Von Ardene sozdal prototip takogo mikroskopa 1939 Simens Siemens sozdal pervyj prosvechivayushij elektronnyj mikroskop Konec 1930 h nachalo 1940 h godov poyavilis pervye rastrovye elektronnye mikroskopy formiruyushie izobrazhenie obekta pri posledovatelnom peremeshenii elektronnogo zonda malogo secheniya po obektu Massovoe primenenie etih priborov v nauchnyh issledovaniyah nachalos v 1960 h godah kogda oni dostigli znachitelnogo tehnicheskogo sovershenstva 1944 Uilyams i Vikov Williams Wyckoff sozdali metod otteneniya metallom 1945 Porter Klod i Fullam Porter Claude Fullam primenili elektronnuyu mikroskopiyu v citologii izuchaya fiksirovannye kletki i tkani posle okrashivaniya 1948 Piz i Bejker Pease Baker poluchili tonchajshie srezy bio obrazcov okolo 0 1 0 2 mkm 1952 Palade Porter i Shestrand Palade Porter Sjostrand sozdali novye sposoby fiksacii i prigotovleniya tonkih srezov chto vpervye pozvolilo uvidet mnogie vnutrikletochnye struktury V chisle pervyh eti metody primenil Haksli N E Xuxley chtoby poluchit dokazatelstva v polzu gipotezy skolzyashih nitej kotoraya opisyvaet mehanizm sokrasheniya myshechnoj tkani Haksli prodemonstriroval perekryvayushiesya seti belkovyh filamentov miocitov 1953 Porter i Blyum Porter Blum sproektirovali ultramikrotom 1956 Glauert Glauert vmeste s sotrudnikami primenili smolu v kachestve sredstva fiksacii mikropreparatov V 1961 Lyuft Luft predlozhil ispolzovat smolu 1957 Robertson Robertson opisal trehslojnoe stroenie kletochnoj membrany 1957 Mur i Myuretaler Moor Muhlethaler uluchshili metod zamorazhivaniya skalyvaniya Stira Steere V 1966 g Brenton Branton primenil etot metod dlya izucheniya vnutrennego stroeniya membran kletok 1959 Brenner i Horn Bretftier Home uluchshili metod negativnogo kontrastirovaniya Holla Hall 1955 chto privelo k rasprostraneniyu ego ispolzovaniya 1959 Singer Singer primenil ferritin associirovannye antitela dlya detekcii vnutrikletochnyh molekul metodom EM 1963 Sabatini Bensh i Barrnett Sabatini Bensch Barrnett primenili i OsO4 dlya fiksacii mikropreparata pri EM 1965 kommercializirovala skaniruyushij EM 1968 De Rozer i Klug de Rosier Klug opisali metod opredeleniya trehmernyh struktur po elektronnym mikrofotografiyam 1975 Henderson i Unvin Henderson Unwin vpervye opredelili tonkoe stroenie membrannogo belka ispolzuya rekonstrukciyu elektronnyh mikrofotografij neokrashennyh belkov na kompyutere Znachitelnym skachkom v 1970 h godah v razvitii bylo ispolzovanie vmesto termoemissionnyh katodov katodov Shottki i katodov s holodnoj avtoemissiej odnako ih primenenie trebuet znachitelno bolshego vakuuma 1979 Hejzer Ris Heuser Reese s kollegami razrabotal metod glubokogo travleniya obladayushij vysokoj razreshayushej sposobnostyu kotoryj ispolzoval metod sverhbystroj zamorozki Konec 1990 h nachalo 2000 h kompyuterizaciya i ispolzovanie PZS detektorov znachitelno uprostili poluchenie izobrazhenij v cifrovom vide V poslednee desyatiletie v sovremennyh peredovyh prosvechivayushih elektronnyh mikroskopah ispolzuyutsya korrektory sfericheskih i hromaticheskih aberracij vnosyashih osnovnye iskazheniya v poluchaemoe izobrazhenie Odnako ih primenenie mozhet znachitelno uslozhnyat ispolzovanie pribora 2018 amerikanskim uchyonym udalos dobitsya razresheniya elektronnogo mikroskopa v 3 9 10 11m Vidy priborovIzobrazhenie golovy muravya v skaniruyushem elektronnom mikroskopeUltrastruktura neonatalnyh kardiomiocitov posle anoksii reoksigenaciiProsvechivayushaya elektronnaya mikroskopiya Osnovnaya statya Prosvechivayushij elektronnyj mikroskop V prosvechivayushem elektronnom mikroskope PEM dlya formirovaniya izobrazheniya ispolzuetsya vysokoenergeticheskij elektronnyj puchok Elektronnyj puchok sozdaetsya posredstvom katoda volframovogo LaB6 Shottki ili holodnoj polevoj emissii Poluchennyj elektronnyj puchok uskoryaetsya obychno do 80 200 keV ispolzuyutsya razlichnye napryazheniya ot 20 kV do 1 MV fokusiruetsya sistemoj magnitnyh linz inogda elektrostaticheskih linz prohodit cherez obrazec tak chto chast elektronov rasseivaetsya na obrazce a chast net Takim obrazom proshedshij cherez obrazec elektronnyj puchok neset informaciyu o strukture obrazca Dalee puchok prohodit cherez sistemu uvelichivayushih linz i formiruet izobrazhenie na lyuminescentnom ekrane kak pravilo iz sulfida cinka fotoplastinke ili PZS kamere Razreshenie PEM limitiruetsya v osnovnom sfericheskoj aberraciej Nekotorye sovremennye PEM imeyut korrektory sfericheskoj aberracii Osnovnymi nedostatkami PEM yavlyayutsya neobhodimost v ochen tonkom obrazce poryadka 100 nm i neustojchivost razlozhenie obrazcov pod puchkom Prosvechivayushaya rastrovaya skaniruyushaya elektronnaya mikroskopiya PREM Osnovnaya statya Prosvechivayushij rastrovyj elektronnyj mikroskop Odin iz tipov prosvechivayushej elektronnoj mikroskopii PEM odnako est pribory rabotayushie isklyuchitelno v rezhime PREM Puchok elektronov propuskaetsya cherez otnositelno tonkij obrazec no v otlichie ot obychnoj prosvechivayushej elektronnoj mikroskopii elektronnyj puchok fokusiruetsya v tochku kotoraya peremeshaetsya po obrazcu po rastru Rastrovaya skaniruyushaya elektronnaya mikroskopiya Osnovnaya statya Rastrovyj elektronnyj mikroskop V osnove lezhit televizionnyj princip razvyortki tonkogo puchka elektronov po poverhnosti obrazca Okrashivanie Osnovnaya statya Rastrovyj elektronnyj mikroskop Raskrashennoe izobrazhenie PEM filtruyushih shetinok antarkticheskogo krilya V svoih naibolee rasprostranennyh konfiguraciyah elektronnye mikroskopy dayut izobrazheniya s otdelnym znacheniem yarkosti na kazhdyj piksel s rezultatami kak pravilo izobrazhennymi v ottenkah serogo Odnako chasto eti izobrazheniya zatem raskrasheny posredstvom ispolzovaniya programmnogo obespecheniya ili prosto ruchnym redaktirovaniem s pomoshyu graficheskogo redaktora Eto delaetsya obychno dlya esteticheskogo effekta ili dlya utochneniya struktury i kak pravilo ne dobavlyaet informaciyu ob obrazce V nekotoryh konfiguraciyah o svojstvah obrazca mozhno sobrat bolshe informacii na kazhdyj piksel blagodarya ispolzovaniyu neskolkih detektorov V SEM atributy topografii i relefa materiala mogut byt polucheny s pomoshyu pary elektronnyh detektorov otrazheniya i takie atributy mogut byt nalozheny v edinoe cvetnoe izobrazhenie s prisvoeniem raznyh pervichnyh cvetov dlya kazhdogo atributa Po analogii sochetaniyam otrazhennogo i vtorichnogo elektronnogo signala razlichnye cveta mogut byt prisvoeny i nalozheny na odin cvetnoj mikrograf odnovremenno pokazyvayushij svojstva obrazca Nekotorye tipy detektorov ispolzuemyh v SEM imeyut analiticheskie vozmozhnosti i mogut obespechit neskolko elementov dannyh na kazhdom piksele Primerami yavlyayutsya detektory ispolzuemye v elementnom analize i sistemy katodolyuminescentnyh mikroskopov kotorye analiziruyut intensivnost i spektr elektronno stimulirovannoj lyuminescencii naprimer v geologicheskih obrazcah V sistemah SEM ispolzovanie etih detektorov yavlyaetsya obshim dlya cvetovogo koda signalov i nakladyvayut ih v edinoe cvetnoe izobrazhenie tak chto razlichiya v raspredelenii razlichnyh komponentov obrazca mozhno yasno videt i sravnivat Dopolnitelno standart vtorichnyh elektronnyh izobrazhenij mozhet byt obedinen s odnim ili bolee kompozicionnymi kanalami tak chto mozhno sravnit strukturu i sostav obrazca Takie izobrazheniya mogut byt sdelany s sohraneniem polnoj celostnosti ishodnogo signala kotoryj ne izmenyaetsya v lyubom sluchae Sfery primeneniyaPoluprovodniki i hranenie dannyh Redaktirovanie shem Metrologiya 3D Analiz defektov Analiz neispravnostej Biologiya i biologicheskie nauki Kriobiologiya Lokalizaciya belkov Elektronnaya tomografiya Kletochnaya tomografiya Krio elektronnaya mikroskopiya Toksikologiya Biologicheskoe proizvodstvo i monitoring zagruzki virusov Analiz chastic Farmacevticheskij kontrol kachestva 3D izobrazheniya tkanej Virusologiya Steklovanie Nauchnye issledovaniya Kvalifikaciya materialov Podgotovka materialov i obrazcov Sozdanie nanoprototipov Nanometrologiya Testirovanie i snyatie harakteristik ustrojstv Issledovaniya mikrostruktury metallov Promyshlennost Sozdanie izobrazhenij vysokogo razresheniya Snyatie mikroharakteristik 2D i 3D Makroobrazcy dlya nanometricheskoj metrologii Obnaruzhenie i snyatie parametrov chastic Elektronnaya litografiya Dinamicheskie eksperimenty s materialami Podgotovka obrazcov Sudebnaya ekspertiza Dobycha i analiz poleznyh iskopaemyh Himiya Neftehimiya Fraktografiya MikrotehnologiyaNedostatkiElektronnye mikroskopy dorogi v proizvodstve i obsluzhivanii no obshaya i ekspluatacionnaya stoimost konfokalnogo opticheskogo mikroskopa sravnima s bazovymi elektronnymi mikroskopami Mikroskopy napravlennye na dostizhenie vysokih razreshenij dolzhny byt razmesheny v ustojchivyh zdaniyah inogda pod zemlyoj i bez vneshnih elektromagnitnyh polej Obrazcy v osnovnom dolzhny rassmatrivatsya v vakuume tak kak molekuly sostavlyayushie vozduh budut rasseivat elektrony Skaniruyushie elektronnye mikroskopy rabotayushie v obychnom vysokovakuumnom rezhime kak pravilo izobrazhayut provodyashij obrazec Poetomu neprovodyashie materialy trebuyut provodyashee pokrytie zoloto palladij splav ugleroda osmij i t d rezhim nizkogo napryazheniya sovremennyh mikroskopov delaet vozmozhnym nablyudenie neprovodyashih obrazcov bez pokrytiya Neprovodyashie materialy mogut byt izobrazheny takzhe peremennym davleniem ili okruzhayushej sredoj skaniruyushego elektronnogo mikroskopa kak Sm takzheNizkovoltnyj elektronnyj mikroskop Mikroskopiya Metod replik mikroskopiya Mikroskopiya medlennyh elektronov Skaniruyushij gelievyj ionnyj mikroskop Otrazhatelnaya mikroskopiyaPrimechaniya Elektronnyj mikroskop statya v Maloj sovetskoj enciklopedii 2 izdanie 1937 1947 gg Yavorskij B M Pinskij A A Osnovy fiziki Tom 2 M Nauka 1974 Tirazh 169000 ekz s 180 Alberts B Brej D Lyuis Dzh Reff M Roberts K Uotson Dzh Molekulyarnaya biologiya kletki V 3 h t 2 e izd pererab M75 i dop T 1 Per s angl M Mir 1994 517 s il ISBN 5 03 001985 5 Rachel Courtland The microscope revolution that s sweeping through materials science EN Nature 2018 11 21 T 563 S 462 doi 10 1038 d41586 018 07448 0 Arhivirovano 1 dekabrya 2021 goda Burgess Jeremy Under the Microscope A Hidden World Revealed angl Cambridge University Press 1987 P 11 ISBN 0 521 39940 8 Introduction to Electron Microscopy neopr 15 FEI Company Data obrasheniya 12 dekabrya 2012 Arhivirovano 24 yanvarya 2013 goda Antonovsky A The application of colour to sem imaging for increased definition angl Micron and Microscopica Acta journal 1984 Vol 15 no 2 P 77 84 doi 10 1016 0739 6260 84 90005 4 Danilatos G D Colour micrographs for backscattered electron signals in the SEM angl Scanning journal 1986 Vol 9 no 3 P 8 18 doi 10 1111 j 1365 2818 1986 tb04287 x Danilatos G D Environmental scanning electron microscopy in colour neopr J Microscopy 1986 T 142 S 317 325 doi 10 1002 sca 4950080104 LiteraturaElektronnyj mikroskop P A Stoyanov Ekslibris Yaya M Sovetskaya enciklopediya 1978 Bolshaya sovetskaya enciklopediya v 30 t gl red A M Prohorov 1969 1978 t 30 Elektronnaya mikroskopiya A E Lukyanov Ekslibris Yaya M Sovetskaya enciklopediya 1978 Bolshaya sovetskaya enciklopediya v 30 t gl red A M Prohorov 1969 1978 t 30 Primenenie elektronnoj mikroskopii v biologii N A Starosvetskaya Ekslibris Yaya M Sovetskaya enciklopediya 1978 Bolshaya sovetskaya enciklopediya v 30 t gl red A M Prohorov 1969 1978 t 30 Ssylki Elektronnyj mikroskop statya v Maloj sovetskoj enciklopedii 2 izdanie 1937 1947 gg
